水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究

水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究

Call No. (NDL): UT51-2002-L503
Bibliographic ID of National Diet Library: 000003542519

Material type: 博士論文

Author: 鄭然植 [著]

Publisher: [鄭然植]

Publication date: [2002]

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 1冊

Name of awarding university/degree: 慶應義塾大学,博士 (工学)

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Note (General)：: 博士論文

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type: 博士論文
Title: 水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究
Title Transcription: スイソカショリタケッショウシリコン TFT ノデンキテキストレスニヨルレッカキコウニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 鄭然植 [著]
Author Heading: 鄭, 然植ジョン, ヨンシク
Publication, Distribution, etc.: [鄭然植]
Publication Date: [2002]
Publication Date (W3CDTF): 2002
Extent: 1冊
Degree grantor/type: 慶應義塾大学
Date Granted: 平成14年3月23日
Date Granted (W3CDTF): 2002
Dissertation Number: 甲第2001号
Degree Type: 博士 (工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Alias of Author: Jeong, Yunsik
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2002-L503
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003542519
http://id.ndl.go.jp/bib/000003542519
Bibliographic Record Category (NDL): 213