シリコン単結晶の結晶方位の測定方法 : JEIDA規格 : JEIDA-18-2000

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Material Type: 図書
Title: シリコン単結晶の結晶方位の測定方法 : JEIDA規格 : JEIDA-18-2000
Title Transcription: シリコンタンケッショウノケッショウホウイノソクテイホウホウ : JEIDA キカク
Author/Editor: 日本電子工業振興協会編
Author Heading: 日本電子工業振興協会ニホンデンシコウギョウシンコウキョウカイ ( 00280783 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本電子工業振興協会
Publication Date: 2000.3
Publication Date (W3CDTF): 2000
Extent: 18p
Size: 30cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: シリコン (半導体)--規格シリコン (ハンドウタイ) キカク ( 00721051 )Authorities
単結晶タンケッショウ ( 00572661 )Authorities
NDC 9th ed.: 549.8 : Electronic engineering
NDLC: M361
ND371
Target Audience: 一般
Note (General): 昭和48年3月制定平成12年3月改正
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: M361-G683
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003621164
http://id.ndl.go.jp/bib/000003621164
National Bibliography No. (JPNO): 20319127
Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111