X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析 : 平成13年度PF研究会 (KEK proceedings ; 2001-25)

X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析 : 平成13年度PF研究会

(KEK proceedings ; 2001-25)

Call No. (NDL): ND371-G217
Bibliographic ID of National Diet Library: 000003631480

Material type: 図書

Author: 高エネルギー加速器研究機構

Publisher: High Energy Accelerator Research Organization

Publication date: 2002.1

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 74p ; 30cm

NDC: 549.8

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Note (General)：: 編集: K.Sakurai, K.Hirano

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Paper

Material Type: 図書
Title: X線・中性子反射率法による薄膜・多層膜の構造解析 : 平成13年度PF研究会
Title Transcription: Xセンチュウセイシハンシャリツホウニヨルハクマクタソウマクノコウゾウカイセキ : ヘイセイ 13ネンド PF ケンキュウカイ
Series Title: KEK proceedings ; 2001-25
Author Heading: 高エネルギー加速器研究機構コウエネルギーカソクキケンキュウキコウ ( 00725424 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [つくば] : High Energy Accelerator Research Organization
Publication Date: 2002.1
Publication Date (W3CDTF): 2002
Extent: 74p
Size: 30cm
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 薄膜ハクマク ( 00562857 )Authorities
エックス線回折エックスセンカイセツ ( 00561906 )Authorities
中性子回折チュウセイシカイセツ ( 00573933 )Authorities
NDC 9th ed.: 549.8 : Electronic engineering
NDLC: ND371
Target Audience: 一般
Note (General): 編集: K.Sakurai, K.Hirano
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: ND371-G217
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000003631480
http://id.ndl.go.jp/bib/000003631480
National Bibliography No. (JPNO): 20322382
Cataloging Rule: Nippon Cataloguing Rules 1987 Revised Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 111