Deep level characterization and electrochemical processing for single crystalline silicon carbide

• Material Type: 博士論文
• Title: Deep level characterization and electrochemical processing for single crystalline silicon carbide
• Author/Editor: Masashi Kato [著]
• Author Heading: 加藤, 正史 カトウ, マサシ
• Publication, Distribution, etc.: [Masashi Kato]
• Publication Date: 2002
• Publication Date (W3CDTF): 2002
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 単結晶SiCの深い準位の評価と電気化学的手法による加工 タンケッショウ SiC ノ フカイ ジュンイ ノ ヒョウカ ト デンキ カガクテキ シュホウ ニ ヨル カコウ
• Degree grantor/type: 名古屋工業大学
• Date Granted: 平成15年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 2003
• Dissertation Number: 甲第422号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2003-H158
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000004195334; http://id.ndl.go.jp/bib/000004195334
• Bibliographic Record Category (NDL): 213