図書

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

Icons representing 図書

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

Call No. (NDL)
Y151-H01550248
Bibliographic ID of National Diet Library
000006975284
Material type
図書
Author
谷口, 研二, 大阪大学
Publisher
-
Publication date
1989-1990
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
View All

Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

Search by Bookstore

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type
図書
Title Transcription
チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ
Author/Editor
谷口, 研二, 大阪大学
Author Heading
谷口, 研二, 1948- タニクチ, ケンジ, 1948- ( 00176969 )Authorities
Publication Date
1989-1990
Publication Date (W3CDTF)
1989
Extent
Additional Title
研究種目 一般研究(C)
Subject Heading
微小MOSFET ビシヨウMOSFET
キヤリア捕獲中心 キヤリアホカクチユウシン
スケーリング スケーリング