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赤外反射分光法による半導体結晶表面の原子制御計測の開発

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赤外反射分光法による半導体結晶表面の原子制御計測の開発

Call No. (NDL)
Y151-H05555109
Bibliographic ID of National Diet Library
000006991883
Material type
図書
Author
庭野, 道夫, 東北大学
Publisher
-
Publication date
1993-1995
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
セキガイ ハンシャ ブンコウホウ ニ ヨル ハンドウタイ ケッショウ ヒョウメン ノ ゲンシ セイギョ ケイソク ノ カイハツ
Author/Editor
庭野, 道夫, 東北大学
Author Heading
庭野, 道夫 ニワノ, ミチオ
Publication Date
1993-1995
Publication Date (W3CDTF)
1993
Extent
Additional Title
研究種目 試験研究(B)
Subject Heading
赤外反射分光 セキガイハンシヤブンコウ
半導体表面 ハンドウタイヒヨウメン
原子制御計測 ゲンシセイギヨケイソク
多重内部反射 タジユウナイブハンシヤ
その場観察 ソノバカンサツ
固液界面 コエキカイメン
半導体プロセス ハンドウタイプロセス