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半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究

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半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究

Call No. (NDL)
Y151-H05558068
Bibliographic ID of National Diet Library
000006992269
Material type
図書
Author
飯田, 敏行, 大阪大学
Publisher
-
Publication date
1993-1995
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General)：

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
図書
Title
半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究
Title Transcription
ハンドウタイ ザイリョウ ノ カク ユウゴウ チュウセイシ ショウシャ コウカ ダイナミクス ノ ケンキュウ
Author/Editor
飯田, 敏行, 大阪大学
Author Heading
著者 ： 飯田, 敏行 イイダ, トシユキ ( 01015281 )Authorities
大阪大学 オオサカ ダイガク ( 00296951 )Authorities
Publication Date
1993-1995
Publication Date (W3CDTF)
1993
Extent
冊
Additional Title
研究種目 試験研究(B)
Subject Heading
CMOS・SRAM素子 CMOS・SRAMソシ
中性子誘起ソフトエラー チユウセイシユウキソフトエラー
Si (n, α) Mg反応 SI (N, アルフア) MGハンノウ
ビツトソフトエラー断面積 ビツトソフトエラーダンメンセキ
極細イオンビーム源 ゴクボソイオンビームゲン
Si-SSD素子 SI-SSDソシ
TRIMコード TRIMコード
DT-DD中性子損傷相関 DT-DDチユウセイシソンシヨウソウカン