VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法

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Material Type: 図書
Title: VLSI内部トランジスタレベル故障のCADレイアウトからの階層的自動故障追跡法
Title Transcription: VLSI ナイブトランジスタレベルコショウノ CAD レイアウトカラノカイソウテキジドウコショウツイセキホウ
Author/Editor: 藤岡, 弘, 大阪大学
Author Heading: 著者：藤岡, 弘, 1941- フジオカ, ヒロシ, 1941- ( 00016011 )Authorities
Publication Date: 1996-1997
Publication Date (W3CDTF): 1996
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Subject Heading: EBテスター EBテスター
VLSI VLSI
故障追跡コシヨウツイセキ
CADレイアウト CADレイアウト
自動故障追跡システムジドウコシヨウツイセキシステム
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 08455164
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H08455164
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007011841
http://id.ndl.go.jp/bib/000007011841
Bibliographic Record Category (NDL): 214