ワイドギヤツプ半導体薄膜の表層評価分光画像計測システムの試作

• Material Type: 図書
• Title: ワイドギヤツプ半導体薄膜の表層評価分光画像計測システムの試作
• Title Transcription: ワイドギヤツプ ハンドウタイ ハクマク ノ ヒョウソウ ヒョウカ ブンコウ ガゾウ ケイソク システム ノ シサク
• Author/Editor: 中島, 信一, 大阪大学
• Author Heading: 中島, 信一 ナカシマ, シンイチ
• Publication Date: 1996-1997
• Publication Date (W3CDTF): 1996
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(A)
• Subject Heading: ワイドギヤツプ半導体 ワイドギヤツプハンドウタイ; SiC SIC; GaN GAN; ダイヤモンド ダイヤモンド; 紫外ラマン シガイラマン; 変調反射 ヘンチヨウハンシヤ; フオトルミネツセンス フオトルミネツセンス; イメージング イメージング
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 08555005
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H08555005
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007013251; http://id.ndl.go.jp/bib/000007013251
• Bibliographic Record Category (NDL): 214