カロリメター中に発生する中性子の半導体検出器とエレクトロニクスに及ぼす影響

• Material Type: 図書
• Title: カロリメター中に発生する中性子の半導体検出器とエレクトロニクスに及ぼす影響
• Title Transcription: カロリメター チュウ ニ ハッセイ スル チュウセイシ ノ ハンドウタイ ケンシュツキ ト エレクトロニクス ニ オヨボス エイキョウ
• Author/Editor: 大杉, 節, 広島大学
• Author Heading: 大杉, 節 オオスギ, タカシ
• Publication Date: 1988-1989
• Publication Date (W3CDTF): 1988
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 一般研究(B)
• Subject Heading: 中性子損傷 チユウセイシソンシヨウ; 半導体の放射線損傷 ハンドウタイノホウシヤセンソンシヨウ; 半導体検出器 ハンドウタイケンシユツキ; シリコン半導体検出器 シリコンハンドウタイケンシユツキ; シリコン半導体の中性子損傷 シリコンハンドウタイノチユウセイシソンシヨウ; 放射線損傷 ホウシヤセンソンシヨウ
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 63460016
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-S63460016
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007033775; http://id.ndl.go.jp/bib/000007033775
• Bibliographic Record Category (NDL): 214