低温拡散接合への分析電子顕微鏡によるアプローチ

Notes on use

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 図書
Title: 低温拡散接合への分析電子顕微鏡によるアプローチ
Title Transcription: テイオンカクサンセツゴウヘノブンセキデンシケンビキョウニヨルアプローチ
Author/Editor: 根本, 實;大石, 敬一郎, 九州大学
Author Heading: 根本, 實ネモト, ミノル
大石, 敬一郎オオイシ, ケイイチロウ
Publication Date: 1997-1999
Publication Date (W3CDTF): 1997
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(A)
Subject Heading: 分析電子顕微鏡ブンセキデンシケンビキヨウ
拡散カクサン
接合セツゴウ
EDS EDS
格子欠陥コウシケツカン
異相界面イソウカイメン
組成分析ソセイブンセキ
界面転位カイメンテンイ
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 09305046
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H09305046
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007055550
http://id.ndl.go.jp/bib/000007055550
Bibliographic Record Category (NDL): 214