サブミクロン電位分布測定装置の開発による電子デバイス内の界面剥離・原子輸送の測定

• Material Type: 図書
• Title: サブミクロン電位分布測定装置の開発による電子デバイス内の界面剥離・原子輸送の測定
• Title Transcription: サブミクロン デンイ ブンプ ソクテイ ソウチ ノ カイハツ ニ ヨル デンシ デバイス ナイ ノ カイメン ハクリ ・ ゲンシ ユソウ ノ ソクテイ
• Author/Editor: 大谷, 隆一, 京都大学
• Author Heading: 大谷, 隆一 オオタニ, リュウイチ
• Publication Date: 1998-2000
• Publication Date (W3CDTF): 1998
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(A)
• Subject Heading: 走査型プローブ顕微鏡 ソウサガタプローブケンビキヨウ; 電位分布測定装置 デンイブンプソクテイソウチ; 電位場解析 デンイバカイセキ
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 10305010
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H10305010
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007070898; http://id.ndl.go.jp/bib/000007070898
• Bibliographic Record Category (NDL): 214