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ラマン散乱を用いたワイドギヤツプ半導体内結晶欠陥の高感度検出法の開発

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ラマン散乱を用いたワイドギヤツプ半導体内結晶欠陥の高感度検出法の開発

Call No. (NDL)
Y151-H12650017
Bibliographic ID of National Diet Library
000007076656
Material type
図書
Author
中島, 信一;前田, 幸治, 宮崎大学
Publisher
-
Publication date
2000-2001
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
-
NDC
-
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Notes on use

Note (General):

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type
図書
Title Transcription
ラマン サンラン オ モチイタ ワイドギヤツプ ハンドウタイ ナイ ケッショウ ケッカン ノ コウカンド ケンシュツホウ ノ カイハツ
Author/Editor
中島, 信一;前田, 幸治, 宮崎大学
Author Heading
中島, 信一 ナカシマ, シンイチ
前田, 幸治 マエダ, コウジ
Publication Date
2000-2001
Publication Date (W3CDTF)
2000
Extent
Additional Title
研究種目 基盤研究(C)
Subject Heading
ラマン散乱 ラマンサンラン
シリコンカーバイド シリコンカーバイド
積層欠陥評価 セキソウケツカンヒヨウカ
ラマンイメージング ラマンイメージング
ラマン強度プロフアイルの解析 ラマンキヨウドプロフアイルノカイセキ