X線表面進行波を用いる極表面電子密度の"その場"測定法の開発

• Material Type: 図書
• Title: X線表面進行波を用いる極表面電子密度の"その場"測定法の開発
• Title Transcription: Xセン ヒョウメン シンコウハ オ モチイル ゴク ヒョウメン デンシ ミツド ノ " ソノ バ " ソクテイホウ ノ カイハツ
• Author/Editor: 堀内, 俊寿, 京都大学
• Author Heading: 堀内, 俊寿 ホリウチ, トシヒサ
• Publication Date: 2001-2002
• Publication Date (W3CDTF): 2001
• Extent: 冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(B)
• Subject Heading: 全反射X線 ゼンハンシヤXセン; X線表面進行波 Xセンヒヨウメンシンコウハ; 表面密度 ヒヨウメンミツド; 金属酸化 キンゾクサンカ; 水素終端シリコン スイソシユウタンシリコン; X線異常散乱 Xセンイジヨウサンラン; 吸収端 キユウシユウタン; 光触媒 ヒカリシヨクバイ
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 13450035
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H13450035
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007087538; http://id.ndl.go.jp/bib/000007087538
• Bibliographic Record Category (NDL): 214