Studies on design for delay testability and delay test generation for sequential circuits

• Material Type: 博士論文
• Title: Studies on design for delay testability and delay test generation for sequential circuits
• Author/Editor: Tsuyoshi Iwagaki [著]
• Author Heading: 岩垣, 剛 イワガキ, ツヨシ
• Publication, Distribution, etc.: [Tsuyoshi Iwagaki]
• Publication Date: 2004
• Publication Date (W3CDTF): 2004
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 順序回路の遅延テスト容易化設計ならびに遅延テスト生成に関する研究 ジュンジョ カイロ ノ チエン テスト ヨウイカ セッケイ ナラビニ チエン テスト セイセイ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 奈良先端科学技術大学院大学
• Date Granted: 平成16年9月30日
• Date Granted (W3CDTF): 2004
• Dissertation Number: 甲第439号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2004-T91
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007665149; http://id.ndl.go.jp/bib/000007665149
• Bibliographic Record Category (NDL): 213