Characterization of dielectric-silicon structure by photoreflectance spectroscopy

• Material Type: 博士論文
• Title: Characterization of dielectric-silicon structure by photoreflectance spectroscopy
• Author/Editor: Masayuki Sohgawa [著]
• Author Heading: 寒川, 雅之 ソウガワ, マサユキ
• Publication, Distribution, etc.: [Masayuki Sohgawa]
• Publication Date: 2005
• Publication Date (W3CDTF): 2005
• Extent: 1冊
• Alternative Title: フォトレフレクタンス分光法による誘電体-シリコン構造の評価に関する研究 フォトレフレクタンス ブンコウホウ ニ ヨル ユウデンタイ - シリコン コウゾウ ノ ヒョウカ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 大阪大学
• Date Granted: 平成17年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 2005
• Dissertation Number: 甲第10581号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2005-C472
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000007783174; http://id.ndl.go.jp/bib/000007783174
• Bibliographic Record Category (NDL): 213