システムLSIに搭載された大容量、高速DRAMのテスト容易化と高信頼性化に関する研究

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Material Type: 博士論文
Title: システムLSIに搭載された大容量、高速DRAMのテスト容易化と高信頼性化に関する研究
Title Transcription: システム LSI ニトウサイサレタダイヨウリョウコウソク DRAM ノテストヨウイカトコウシンライセイカニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 古谷清広 [著]
Author Heading: 古谷, 清広フルタニ, キヨヒロ
Publication, Distribution, etc.: [古谷清広]
Publication Date: 2004
Publication Date (W3CDTF): 2004
Extent: 1冊
Alternative Title: Study on high density and high speed DRAM with improved testability and reliability for system LSI
Degree grantor/type: 早稲田大学
Date Granted: 平成16年9月15日
Date Granted (W3CDTF): 2004
Dissertation Number: 甲第1944号
Degree Type: 博士 (工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2005-P14
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008069585
http://id.ndl.go.jp/bib/000008069585
Bibliographic Record Category (NDL): 213