半導体量子井戸および量子細線構造の界面ラフネス制御と顕微分光計測

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Material Type: 博士論文
Title: 半導体量子井戸および量子細線構造の界面ラフネス制御と顕微分光計測
Title Transcription: ハンドウタイリョウシイドオヨビリョウシサイセンコウゾウノカイメンラフネスセイギョトケンビブンコウケイソク
Author/Editor: 吉田正裕 [著]
Author Heading: 吉田, 正裕ヨシタ, マサヒロ
Publication, Distribution, etc.: [吉田正裕]
Publication Date: [2004]
Publication Date (W3CDTF): 2004
Extent: 1冊
Alternative Title: Interface roughness control and microscopic spctroscopy of semiconductor quantum wells and wires
Degree grantor/type: 東京大学
Date Granted: 平成16年4月8日
Date Granted (W3CDTF): 2004
Dissertation Number: 乙第15969号
Degree Type: 博士 (理学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2006-D783
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008177291
http://id.ndl.go.jp/bib/000008177291
Bibliographic Record Category (NDL): 213