電流テストによるCMOS ICのリード浮き検出入力に関する研究

電流テストによるCMOS ICのリード浮き検出入力に関する研究

Call No. (NDL): UT51-2006-G786
Bibliographic ID of National Diet Library: 000008249480

Material type: 博士論文

Author: 高木正夫 [著]

Publisher: [高木正夫]

Publication date: 2006

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 1冊

Name of awarding university/degree: 徳島大学,博士 (工学)

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Note (General)：: 博士論文

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Paper

Material Type: 博士論文
Title: 電流テストによるCMOS ICのリード浮き検出入力に関する研究
Title Transcription: デンリュウテストニヨル CMOS IC ノリードウキケンシュツニュウリョクニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 高木正夫 [著]
Author Heading: 高木, 正夫タカギ, マサオ
Publication, Distribution, etc.: [高木正夫]
Publication Date: 2006
Publication Date (W3CDTF): 2006
Extent: 1冊
Degree grantor/type: 徳島大学
Date Granted: 平成18年3月24日
Date Granted (W3CDTF): 2006
Dissertation Number: 甲第1706号
Degree Type: 博士 (工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2006-G786
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008249480
http://id.ndl.go.jp/bib/000008249480
Bibliographic Record Category (NDL): 213