超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究

Call No. (NDL): Y151-H15500043
Bibliographic ID of National Diet Library: 000008351743

Material type: 図書

Author: 高松雄三, 愛媛大学 [著]

Publisher: [高松雄三]

Publication date: 2003-2005

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 86p

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Material Type: 図書
Title: 超高速・超微細VLSIに対する組込み自己テスト手法と故障診断法に関する研究
Title Transcription: チョウコウソクチョウビサイ VLSI ニタイスルクミコミジコテストシュホウトコショウシンダンホウニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 高松雄三, 愛媛大学 [著]
Author Heading: 高松, 雄三, 1943- タカマツ, ユウゾウ, 1943- ( 00145982 )Authorities
愛媛大学エヒメダイガク ( 00258039 )Authorities
Publication, Distribution, etc.: [高松雄三]
Publication Date: 2003-2005
2006.3
Publication Date (W3CDTF): 2003
2005
Extent: 86p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 故障検査 / 故障診断 / 組込み自己テスト / 縮退故障 / ブリッジ故障 / クロストーク故障 / オープン故障 / ドントケア値コショウケンサ / コショウシンダン / クミコミジコテスト / シュクタイコショウ / ブリッジコショウ / クロストークコショウ / オープンコショウ / ドントケアチ
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 15500043
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H15500043
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008351743
http://id.ndl.go.jp/bib/000008351743
Bibliographic Record Category (NDL): 214