ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究

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Material Type: 図書
Title: ディープサブミクロンCMOS論理回路内断線故障の電気的検査法に関する研究
Title Transcription: ディープサブミクロン CMOS ロンリカイロナイダンセンコショウノデンキテキケンサホウニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 橋爪正樹, 徳島大学 [著]
Author Heading: 橋爪, 正樹ハシズメ, マサキ
徳島大学トクシマダイガク
Publication, Distribution, etc.: [橋爪正樹]
Publication Date: 2003-2005
2006.3
Publication Date (W3CDTF): 2003
2005
Extent: 158p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 電気的検査 / CMOS論理回路 / 断線故障 / リード浮き / 電流テスト / IDDQテストデンキテキケンサ / CMOS ロンリカイロ / ダンセンコショウ / リードウキ / デンリュウテスト / IDDQ テスト
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 15500041
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H15500041
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008352872
http://id.ndl.go.jp/bib/000008352872
Bibliographic Record Category (NDL): 214