Studies on test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on τ[k]-notation

• Material Type: 博士論文
• Title: Studies on test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on τ[k]-notation
• Author/Editor: Chia Yee Ooi [著]
• Author Heading: Ooi, Chia Yee ウイ, チア イー
• Publication, Distribution, etc.: [Chia Yee Ooi]
• Publication Date: [2006]
• Publication Date (W3CDTF): 2006
• Extent: 1冊
• Alternative Title: τ[k]-表記法に基づく縮退故障およびパス遅延故障のテスト生成複雑度に関する研究 タウ k - ヒョウキホウ ニ モトズク シュクタイ コショウ オヨビ パス チエン コショウ ノ テスト セイセイ フクザツド ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 奈良先端科学技術大学院大学
• Date Granted: 平成18年9月29日
• Date Granted (W3CDTF): 2006
• Dissertation Number: 甲第602号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2007-B463
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000008493023; http://id.ndl.go.jp/bib/000008493023
• Bibliographic Record Category (NDL): 213