二次イオン質量分析法を用いたナノ深さ表面層とナノ薄膜の分析評価に関する研究

Notes on use

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 博士論文
Title: 二次イオン質量分析法を用いたナノ深さ表面層とナノ薄膜の分析評価に関する研究
Title Transcription: ニジイオンシツリョウブンセキホウオモチイタナノフカサヒョウメンソウトナノハクマクノブンセキヒョウカニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 東條二三代 [著]
Author Heading: 東條, 二三代トウジョウ, フミヨ
Publication, Distribution, etc.: [東條二三代]
Publication Date: [2007]
Publication Date (W3CDTF): 2007
Extent: 1冊
Degree grantor/type: 名古屋大学
Date Granted: 平成19年1月31日
Date Granted (W3CDTF): 2007
Dissertation Number: 乙第6635号
Degree Type: 博士 (工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2007-E687
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000008555563
http://id.ndl.go.jp/bib/000008555563
Bibliographic Record Category (NDL): 213