ヘテロ残留線反射と全反射減衰による,ワイドギャップ半導体堆積薄膜の結晶品位評価

Call No. (NDL): Y151-H17560024
Bibliographic ID of National Diet Library: 000009297368

Material type: 図書

Author: 黒田規敬, 熊本大学 [著]

Publisher: [黒田規敬]

Publication date: 2005-2006

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 30p

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type: 図書
Title: ヘテロ残留線反射と全反射減衰による,ワイドギャップ半導体堆積薄膜の結晶品位評価
Title Transcription: ヘテロザンリュウセンハンシャトゼンハンシャゲンスイニヨルワイドギャップハンドウタイタイセキハクマクノケッショウヒンイヒョウカ
Author/Editor: 黒田規敬, 熊本大学 [著]
Author Heading: 黒田, 規敬クロダ, ノリタカ
熊本大学クマモトダイガク
Publication, Distribution, etc.: [黒田規敬]
Publication Date: 2005-2006
2007.5
Publication Date (W3CDTF): 2005
2006
Extent: 30p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: Gan / ZnO / 薄膜 / サファイア基板 / 光学フォノン / 斜入射赤外反射 / 全反射減衰 / 光ダイオード Gan / ZnO / ハクマク / サファイアキバン / コウガクフォノン / ナナメニュウシャセキガイハンシャ / ゼンハンシャゲンスイ / ヒカリダイオード
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17560024
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17560024
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009297368
http://id.ndl.go.jp/bib/000009297368
Bibliographic Record Category (NDL): 214