表面深さ分解能を有する誘電計測による高分子電気絶縁材料の劣化診断技術の開発

Call No. (NDL): Y151-H16360142
Bibliographic ID of National Diet Library: 000009315228

Material type: 図書

Author: 所哲郎, 岐阜工業高等専門学校 [著]

Publisher: [所哲郎]

Publication date: 2004-2006

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 124p

NDC: -

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Material Type: 図書
Title: 表面深さ分解能を有する誘電計測による高分子電気絶縁材料の劣化診断技術の開発
Title Transcription: ヒョウメンフカサブンカイノウオユウスルユウデンケイソクニヨルコウブンシデンキゼツエンザイリョウノレッカシンダンギジュツノカイハツ
Author/Editor: 所哲郎, 岐阜工業高等専門学校 [著]
Author Heading: 所, 哲郎トコロ, テツロウ
岐阜工業高等専門学校ギフコウギョウコウトウセンモンガッコウ
Publication, Distribution, etc.: [所哲郎]
Publication Date: 2004-2006
2007.3
Publication Date (W3CDTF): 2004
2006
Extent: 124p
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: シリコーンゴム / 撥水性 / STRI法 / 誘電計測 / くし形電極系 / レーザ顕微鏡 / ATH / 表面処理シリコーンゴム / ハツスイセイ / STRI ホウ / ユウデンケイソク / クシケイデンキョクケイ / レーザケンビキョウ / ATH / ヒョウメンショリ
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 16360142
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H16360142
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009315228
http://id.ndl.go.jp/bib/000009315228
Bibliographic Record Category (NDL): 214