LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究

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Material Type: 図書
Title: LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究
Title Transcription: LSI ブドマリコウジョウノタメノゴテストカイヒガタテストホウシキニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 温暁青, 九州工業大学 [著]
Author Heading: 温, 暁青オン, ギョウセイ
九州工業大学キュウシュウコウギョウダイガク
Publication, Distribution, etc.: [温暁青]
Publication Date: 2005-2006
2007.5
Publication Date (W3CDTF): 2005
2006
Extent: 106p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Alias of Author: Wen, Xiaoqing
Subject Heading: LSIテスト / スキャン設計 / 低消費電力テスト / IRドロップ LSI テスト / スキャンセッケイ / テイショウヒデンリョクテスト / IR ドロップ
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17500039
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17500039
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009316679
http://id.ndl.go.jp/bib/000009316679
Bibliographic Record Category (NDL): 214