粒界ディープレベルと疲労損傷との関連によるポリシリコンの新しい信頼性評価

Notes on use

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 図書
Title: 粒界ディープレベルと疲労損傷との関連によるポリシリコンの新しい信頼性評価
Title Transcription: リュウカイディープレベルトヒロウソンショウトノカンレンニヨルポリシリコンノアタラシイシンライセイヒョウカ
Author/Editor: 神谷庄司, 名古屋工業大学 [著]
Author Heading: 神谷, 庄司カミヤ, ショウジ
名古屋工業大学ナゴヤコウギョウダイガク
Publication, Distribution, etc.: [神谷庄司]
Publication Date: 2004-2006
2007.3
Publication Date (W3CDTF): 2004
2006
Extent: 110p
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 半導体材料 / 多結晶粒界 / 準位 / ポリシリコンハンドウタイザイリョウ / タケッショウリュウカイ / ジュンイ / ポリシリコン
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 16360047
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H16360047
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009319953
http://id.ndl.go.jp/bib/000009319953
Bibliographic Record Category (NDL): 214