欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化

• Material Type: 図書
• Title: 欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化
• Title Transcription: ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニ モトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ
• Author/Editor: 橋詰保, 北海道大学 [著]
• Author Heading: 橋詰, 保 ハシズメ, タモツ; 北海道大学 ホッカイドウ ダイガク
• Publication, Distribution, etc.: [橋詰保]
• Publication Date: 2005-2006; 2007.4
• Publication Date (W3CDTF): 2005; 2006
• Extent: 1冊
• Additional Title: 研究種目 基盤研究(B)
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• Subject Heading: GaN / AlGaN / 窒素空孔欠陥 / 酸素不純物 / 漏れ電流 / 表面制御 / ショットキー接合 / MIS構造 GaN / AlGaN / チッソ クウコウ ケッカン / サンソ フジュンブツ / モレ デンリュウ / ヒョウメン セイギョ / ショットキー セツゴウ / MIS コウゾウ
• NDLC: Y151
• Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
• Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17360133
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Y151-H17360133
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000009347877; http://id.ndl.go.jp/bib/000009347877
• Bibliographic Record Category (NDL): 214