相成長評価による電子基板鉛フリーはんだ接合部の故障・余寿命診断技術の開発

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Material Type: 図書
Title: 相成長評価による電子基板鉛フリーはんだ接合部の故障・余寿命診断技術の開発
Title Transcription: ソウセイチョウヒョウカニヨルデンシキバンナマリフリーハンダセツゴウブノコショウヨジュミョウシンダンギジュツノカイハツ
Author/Editor: 森孝男, 富山県立大学 [著]
Author Heading: 森, 孝男モリ, タカオ
富山県立大学トヤマケンリツダイガク
Publication, Distribution, etc.: [森孝男]
Publication Date: 2005-2007
2008.6
Publication Date (W3CDTF): 2005
2007
Extent: 74, 44p
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Subject Heading: 鉛フリーはんだ / 相成長 / 熱疲労寿命 / 電子基板 / 信頼性ナマリフリーハンダ / ソウセイチョウ / ネツヒロウジュミョウ / デンシキバン / シンライセイ
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17560075
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17560075
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009466812
http://id.ndl.go.jp/bib/000009466812
Bibliographic Record Category (NDL): 214