低エネルギー電子線励起による半導体表面構造の不安定性

Call No. (NDL): Y151-H17540295
Bibliographic ID of National Diet Library: 000009619084

Material type: 図書

Author: 金崎順一, 大阪大学 [著]

Publisher: [金崎順一]

Publication date: 2005-2007

Material Format: Paper

Capacity, size, etc.: 1冊

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Note (General)：: 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書

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Paper

Material Type: 図書
Title: 低エネルギー電子線励起による半導体表面構造の不安定性
Title Transcription: テイエネルギーデンシセンレイキニヨルハンドウタイヒョウメンコウゾウノフアンテイセイ
Author/Editor: 金崎順一, 大阪大学 [著]
Author Heading: 金崎, 順一カナサキ, ジュンイチ
大阪大学オオサカダイガク
Publication, Distribution, etc.: [金崎順一]
Publication Date: 2005-2007
2008.5
Publication Date (W3CDTF): 2005
2007
Extent: 1冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(C)
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
eng
Subject Heading: 半導体表面 / 低エネルギー電子線 / 水素終端表面 / 水素原子脱離 / 電子励起 / トンネル顕微鏡観察 / 結合切断 / ダングリングボンドハンドウタイヒョウメン / テイエネルギーデンシセン / スイソシュウタンヒョウメン / スイソゲンシダツリ / デンシレイキ / トンネルケンビキョウカンサツ / ケツゴウセツダン / ダングリングボンド
NDLC: Y151
Note (General): 文部科学省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 17540295
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H17540295
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000009619084
http://id.ndl.go.jp/bib/000009619084
Bibliographic Record Category (NDL): 214