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- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- シリコン MOS ゲート SiO2マク ノ デンキ ストレス ニ ヨル ケッカン ケイセイ ト ゼツエン ハカイ キコウ ニ カンスル ケンキュウ
- Author/Editor
- 三谷祐一郎 [著]
- Author Heading
- 三谷, 祐一郎 ミタニ, ユウイチロウ
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- [2009]
- Publication Date (W3CDTF)
- 2009
- Extent
- 1冊
- Degree grantor/type
- 東京大学