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博士論文

先端増強ラマン分光顕微鏡による半導体結晶の局所歪み評価

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先端増強ラマン分光顕微鏡による半導体結晶の局所歪み評価

Call No. (NDL)
UT51-2010-C401
Bibliographic ID of National Diet Library
000010924648
Material type
博士論文
Author
本橋正史 [著]
Publisher
[本橋正史]
Publication date
[2010]
Material Format
Paper
Capacity, size, etc.
1冊
Name of awarding university/degree
大阪大学,博士 (工学)
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Note (General):

博士論文

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Bibliographic Record

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Paper

Material Type
博士論文
Title Transcription
センタン ゾウキョウ ラマン ブンコウ ケンビキョウ ニ ヨル ハンドウタイ ケッショウ ノ キョクショヒズミ ヒョウカ
Author/Editor
本橋正史 [著]
Author Heading
本橋, 正史 モトハシ, マサシ
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
[2010]
Publication Date (W3CDTF)
2010
Extent
1冊
Alternative Title
Tip enhanced Raman spectroscopy and microscopy for local stress characterization in semiconductors