A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors

• Material Type: 博士論文
• Title: A study on device characterization of polycrystalline-silicon thin-film transistors
• Author/Editor: Hiroyuki Ikeda [著]
• Author Heading: 池田, 裕幸 イケダ, ヒロユキ ( 01198753 )Authorities
• Publication, Distribution, etc.: [Hiroyuki Ikeda]
• Publication Date: [2010]
• Publication Date (W3CDTF): 2010
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 多結晶シリコン薄膜トランジスタのデバイスキャラクタライゼーションに関する研究 タケッショウ シリコン ハクマク トランジスタ ノ デバイス キャラクタライゼーション ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 筑波大学
• Date Granted: 平成22年3月25日
• Date Granted (W3CDTF): 2010
• Dissertation Number: 甲第5285号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2010-L133
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000011050549; http://id.ndl.go.jp/bib/000011050549
• Bibliographic Record Category (NDL): 213