Electrical, optical and structural characterization of extended defects in 4H-SiC films and multicrystalline Si

• Material Type: 博士論文
• Title: Electrical, optical and structural characterization of extended defects in 4H-SiC films and multicrystalline Si
• Author/Editor: Bin Chen [著]
• Author Heading: 陳, 斌 チェン, ビン
• Publication, Distribution, etc.: [Bin Chen]
• Publication Date: [2009]
• Publication Date (W3CDTF): 2009
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 4H-SiC薄膜と多結晶Si中の拡張欠陥の電気的・光学的・構造学的評価 4H-SiC ハクマク ト タケッショウ Siチュウ ノ カクチョウ ケッカン ノ デンキテキ コウガクテキ コウゾウガクテキ ヒョウカ
• Degree grantor/type: 筑波大学
• Date Granted: 平成21年7月24日
• Date Granted (W3CDTF): 2009
• Dissertation Number: 甲第5169号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• Alias of Author: Chen, Bin
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2010-L19
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000011050581; http://id.ndl.go.jp/bib/000011050581
• Bibliographic Record Category (NDL): 213