Studies on F-scan : a design for testability method for functional RTL circuits

• Material Type: 博士論文
• Title: Studies on F-scan : a design for testability method for functional RTL circuits
• Author/Editor: Marie Engelene J.Obien [著]
• Author Heading: Obien Marie Engelene Jimenez オビエン マリー エンジェリン ヒメネス
• Publication, Distribution, etc.: [Marie Engelene J.Obien]
• Publication Date: [2011]
• Publication Date (W3CDTF): 2011
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 機能RTL回路のFスキャンテスト容易化設計法に関する研究 キノウ RTL カイロ ノ F スキャン テスト ヨウイカ セッケイホウ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 奈良先端科学技術大学院大学
• Date Granted: 平成23年3月24日
• Date Granted (W3CDTF): 2011
• Dissertation Number: 甲第981号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2011-G4
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 000011280191; http://id.ndl.go.jp/bib/000011280191
• Bibliographic Record Category (NDL): 213