Study of 65nm/180nm CMOS variation effects and impact on frequency-domain associative-memory reliability

• Material Type: 博士論文
• Title: Study of 65nm/180nm CMOS variation effects and impact on frequency-domain associative-memory reliability
• Author/Editor: Ansari Tania [著]
• Author Heading: Ansari, Tania アンサリ, タニア
• Publication, Distribution, etc.: [Ansari Tania]
• Publication Date: [2012]
• Publication Date (W3CDTF): 2012
• Extent: 1冊
• Alternative Title: 65nm/180nm CMOSばらつき解析と周波数ドメイン連想メモリの信頼性への影響に関する研究 65nm
• Degree grantor/type: 広島大学
• Date Granted: 平成24年3月2日
• Date Granted (W3CDTF): 2012
• Dissertation Number: 甲第5720号
• Degree Type: 博士 (学術)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Target Audience: 一般
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2012-G450
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 023912022; http://id.ndl.go.jp/bib/023912022
• Bibliographic Record Category (NDL): 213