Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC

• Material Type: 博士論文
• Title: Microstructure, electrical property and reliability of Nb based ohmic contact electrodes on n-type 4H-SiC
• Author/Editor: 丁建華 [著]
• Author Heading: 丁, 建華 ジョン, コンハ
• Publication, Distribution, etc.: [丁建華]
• Publication Date: [2012]
• Publication Date (W3CDTF): 2012
• Extent: 1冊
• Alternative Title: n型4H-SiCに対するNb基オーミック電極の微細組織、電気特性、および信頼性 nガタ 4H-SiC ニ タイスル Nbキ オーミック デンキョク ノ ビサイ ソシキ デンキ トクセイ オヨビ シンライセイ
• Degree grantor/type: 東北大学
• Date Granted: 平成24年3月27日
• Date Granted (W3CDTF): 2012
• Dissertation Number: 甲第14662号
• Degree Type: 博士 (工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• Alias of Author: Jung, Kunhwa
• NDLC: UT51
• Target Audience: 一般
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2012-J476
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 024022278; http://id.ndl.go.jp/bib/024022278
• Bibliographic Record Category (NDL): 213