光励起状態を利用した半導体デバイス特性評価に関する研究

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Material Type: 博士論文
Title: 光励起状態を利用した半導体デバイス特性評価に関する研究
Title Transcription: ヒカリレイキジョウタイオリヨウシタハンドウタイデバイストクセイヒョウカニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 西優弥 [著]
Author Heading: 西, 優弥ニシ, ユウヤ
Publication, Distribution, etc.: [西優弥]
Publication Date: [2012]
Publication Date (W3CDTF): 2012
Extent: 1冊
Alternative Title: Evaluation of semiconductor device characterization using photo excited state
Degree grantor/type: 熊本大学
Date Granted: 平成24年9月11日
Date Granted (W3CDTF): 2012
Dissertation Number: 乙第109号
Degree Type: 博士(工学)
Note (Dissertation): 博士論文
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: UT51
Target Audience: 一般
Note (General): 博士論文
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: UT51-2012-Q957
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024392390
http://id.ndl.go.jp/bib/024392390
Bibliographic Record Category (NDL): 213