Built-in self-test techniques for data converter in analog and mixed-signal circuits

• Material Type: 博士論文
• Title: Built-in self-test techniques for data converter in analog and mixed-signal circuits
• Author/Editor: Yuan Jun [著]
• Author Heading: Yuan, Jun ヤン, ジュン
• Publication, Distribution, etc.: [Yuan Jun]
• Publication Date: [2012]
• Publication Date (W3CDTF): 2012
• Extent: 1冊
• Alternative Title: AMS回路におけるデータ変換器のためのBIST技術に関する研究 AMS カイロ ニ オケル データ ヘンカンキ ノ タメ ノ BIST ギジュツ ニ カンスル ケンキュウ
• Degree grantor/type: 高知工科大学
• Date Granted: 平成24年9月28日
• Date Granted (W3CDTF): 2012
• Dissertation Number: 甲第226号
• Degree Type: 博士(工学)
• Note (Dissertation): 博士論文
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: eng
• NDLC: UT51
• Target Audience: 一般
• Note (General): 博士論文
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: UT51-2013-L675
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 025054218; http://id.ndl.go.jp/bib/025054218
• Bibliographic Record Category (NDL): 213