世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 : データベースCD-ROM版 2022

世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 = Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual : データベースCD-ROM版. 2022

Call No. (NDL): YH231-R233
Bibliographic ID of National Diet Library: 033808851

Material type: 電子資料

Author: -

Publisher: グローバルネット

Publication date: 2022.10

Material Format: Recording Media

Capacity, size, etc.: CD-ROM 1枚 ; 12 cm

NDC: 549.8093

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Bibliographic Record

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Recording Media

Material Type: 電子資料
ISBN: 978-4-910417-26-4
Title: 世界半導体製造装置・試験/検査装置市場年鑑 : データベースCD-ROM版
Title Transcription: セカイハンドウタイセイゾウソウチ・シケン / ケンサソウチシジョウネンカン : データベース CD-ROMバン
Volume: 2022
Publication, Distribution, etc.: [東京] : グローバルネット (出版)
Publication Date: 2022.10
Publication Date (W3CDTF): 2022
Extent: CD-ROM 1枚
Size: 12 cm
Alternative Title: Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
Semiconductor equipment test/inspection worldwide annual
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
Content Type: テキスト
Media Type: コンピュータ
Carrier Type: コンピュータ・ディスク
Digital File Characteristics: ファイル種別 : テキスト・ファイル
ファイル種別 : データ・ファイル
デジタル・コンテンツ・フォーマット : PDF
Note (System Details): 推奨動作環境
Microsoft Windows 11/10/8
2 GB以上のRAM
128 MB以上のハードディスク空き容量
NDC 10th ed.: 549.8093 : Electronic engineering
NDLC: YH231
Target Audience: 一般
Price: 98000円
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: YH231-R233
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 033808851
http://id.ndl.go.jp/bib/033808851
National Bibliography No. (JPNO): 24077991
Cataloging Rule: Nippon Cataloging Rules 2018 Edition
Bibliographic Record Category (NDL): 141