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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用
Paper図書
D.ブリッグス, M.P.シーア 編, 志水隆一, 二瓶好正 監訳アグネ承風社2003.7<MC141-H14>
National Diet LibraryOther Libraries in Japan
  • Author Heading (ID)00463774 00474770 00189990 00216119

表面分析 : 基礎と応用 上巻

表面分析 : 基礎と応用 上巻
PaperDigital図書
D.ブリッグス, M.P.シーア 編, 表面分析研究会 訳アグネ1990.7<MC141-E34>
National Diet LibraryOther Libraries in Japan
  • Author Heading (ID)00463774 00474770 00284187

Handbook of static secondary ion mass spectrometry / D. Briggs, A. Brown, and J.C. Vickerman.

Handbook of static secondary ion mass spectrometry / D. Briggs, A. Brown, and J.C. Vickerman.
Paper図書
J. Wileyc1989.<PA2-A60>
National Diet LibraryOther Libraries in Japan
  • Author Heading (ID)00463774

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