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シリコン基板上GaNの高分解TEM観察

シリコン基板上GaNの高分解TEM観察
Digital文書・図像類
澤木, 宣彦, 岩田, 博之, 川北, 将吾, 本田, 善央愛知工業大学2012-09-27総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.14p.23-26
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シリコン基板上窒化物半導体の高品質化に関する研究

シリコン基板上窒化物半導体の高品質化に関する研究
Digital文書・図像類
澤木, 宣彦, 岩田, 博之, 川北, 将吾, 本田, 善央愛知工業大学2011-09-05総合技術研究所研究報告=Bulletin of Research Institute for Industrial Technology.13p.19-22
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愛知工業大学総合技術研究所研究報告

愛知工業大学総合技術研究所研究報告
Paper雑誌
研究報告編集委員会 編愛知工業大学総合技術研究所1999-<Z74-B826>
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