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SOI構造における酸化メカニズムの解明に関する研究

SOI構造における酸化メカニズムの解明に関する研究
Paper図書
平本, 俊郎, 東京大学1996-1997<Y151-H08455161>
National Diet Library
  • Subject HeadingSOI 界面準位 MOSFET チヤージポンピング 酸化 酸化膜界面

高感度チャージポンピング・スピン共鳴法の開発と電子対再結合のスピン制御

高感度チャージポンピング・スピン共鳴法の開発と電子対再結合のスピン制御
Digital文書・図像類
小野, 行徳静岡大学2017-06-07
Other Libraries in Japan
  • Subject Headingチャージポンピング 電子スピン共鳴 シリコン酸化膜界面

単一界面欠陥のチャージポンピング過程を用いた２電子スピン相関の室温観測

単一界面欠陥のチャージポンピング過程を用いた２電子スピン相関の室温観測
Digital文書・図像類
堀, 匡寛2020-06-07
Other Libraries in Japan
  • Subject HeadingシリコンMOSFET 界面欠陥 チャージポンピング法 電子スピン共鳴法 EDMR法 信頼性評価 再結合過程 量...

ドーパント格子の実現とその磁性制御の研究

ドーパント格子の実現とその磁性制御の研究
Digital文書・図像類
堀, 匡寛静岡大学2016-06-16
Other Libraries in Japan
  • Subject Heading量子準位 チャージポンピング法 電子スピン共鳴法 EDMR シリコン MOSFET 界面...

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