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ユビキタス社会に向け老人性難聴者等を救済する新しい補聴器システム

Paper図書

高橋謙三, 福井大学 [著][高橋謙三]2006-2007<Y151-H18560372>

National Diet Library

Subject Headingディジタル補聴器 / ネットワーク化 / 無線LAN利用 / 骨導音利用 / フィッティングやの容易化 / 老人性難聴

組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

Paper図書

小林大輔, 宇宙航空研究開発機構 [著][小林大輔]2006-2007<Y151-H18560359>

National Diet Library

Subject Headingソフトエラー / シングルイベント効果 / スキャン設計 / テスト容易化設計 / 放射線 / VLSI / 論理回路

熟練作業を容易にする人間-機械協調制御系の設計

Paper図書

松尾, 芳樹, 東京工業大学1999-2000<Y151-H11650442>

National Diet Library

Subject Heading人間-機械協調熟練作業容易化表面筋電位作業精度

上流からのVLSIテスト容易化合成に関する基礎研究

Paper図書

藤原, 秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学1997-2000<Y151-H09480054>

National Diet Library

Subject Headingテスト容易化設計テスト容易化合物高位合成 VLSIテストデータフローグラフレジスタ...

多層構造VLSIのテステイング容易化設計手法の基礎的研究

Paper図書

藤岡, 弘, 大阪大学1998-2000<Y151-H10450137>

National Diet Library

Subject HeadingVLSI テステイング容易化設計電流テストポイント電圧テストポイントパーテイクル

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

Paper図書

藤原秀雄, 奈良先端科学技術大学院大学 [著][藤原秀雄]2003-2006<Y151-H15300018>

National Diet Library

Subject Headingシステムオンチップ / テスト容易化設計 / 連続可検査 / 連続透明 / テストアーキテクチャ...

3段論理回路の構成法に関する研究

Paper図書

笹尾, 勤, 九州工業大学1996-1997<Y151-H08680374>

National Diet Library

Subject Heading論理設計論理合成関数分解多段論理回路 EXOR 検査容易化設計 FPGA BDD

大規模集積回路の統計的特性解析・最適化手法の開発

Paper図書

小野寺, 秀俊, 京都大学1999-2001<Y151-H11555095>

National Diet Library

Subject Heading統計的解析ばらつき集積回路歩留り最大化ロバスト設計設計容易化技術統計モデリングモンテカルロ解析

可観測な環境でのテスト設計と診断容易化手法に関する研究

Paper図書

樹下, 行三, 大阪大学1990-1992<Y151-H02452165>

National Diet Library

Subject Headingテスト容易化設計故障診断電子ビームテスト全可観測テスト LSIテス...

セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

Paper図書

南谷, 崇, 東京工業大学1988-1989<Y151-S63550270>

National Diet Library

Subject Headingセルフチエツキング VLSIテスト論理回路テスト容易化設計

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成21年度-23年度研究成果報告書

Digital文書・図像類

米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2012

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Subject Headingシステムオンチップ三次元集積化テスト容易化設計テストアーキテクチャ

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成23年度実績報告書

Digital文書・図像類

米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2012

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Subject Headingシステムオンチップ三次元集積化テスト容易化設計テストアーキテクチャ

三次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究 : 平成22年度実績報告書

Digital文書・図像類

米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2011

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Subject Headingシステムオンチップ三次元集積化テスト容易化設計テストアーキテクチャ

3次元集積化システムオンチップのテスト手法に関する研究

Digital文書・図像類

米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2010

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Subject Headingシステムオンチップ三次元集積化テスト容易化設計テストアーキテクチャ

データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

Digital博士論文

和田, 弘樹奈良先端科学技術大学院大学2001-03-23

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Subject Heading強可検査性テスト容易化設計テスト容易化高位合成レジスタ転送レベルデータパス

時間展開モデルに基づくレジスタ転送レベル回路の非スキャンテスト容易化設計法に関する研究

Digital博士論文

岩田, 浩幸奈良先端科学技術大学院大学2007-03-23

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Subject Headingテスト容易化設計 RTL回路時間展開モデル部分強可検査完全故障検出...

構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法 : 平成19年度実績報告書

Digital文書・図像類

井上, 美智子奈良先端科学技術大学院大学2008

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Subject Headingテスト生成テスト容易化設計プロセッサ遅延故障命令レベル自己テスト VLSI

大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書

Digital文書・図像類

大竹, 哲史奈良先端科学技術大学院大学2008

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Subject HeadingVLSIテストテスト容易化設計縮退故障遅延故障レジスタ転送レベルデータパス不...

マルチクロックドメイン・システムオンチップのテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書

Digital文書・図像類

米田, 友和奈良先端科学技術大学院大学2008

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Subject Headingテスト容易化設計テストスケジューリングシステムオンチップネットワー...

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究 : 平成15年度-18年度研究成果報告書

Digital文書・図像類

藤原, 秀雄奈良先端科学技術大学院大学2007-03

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Subject Headingシステムオンチップテスト容易化設計連続可検査連続透明テストアーキテクチャテストアク...

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