セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

Notes on use

Search by Bookstore

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 図書
Title: セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究
Title Transcription: セルフチエツキングキノウニモトヅク VLSI テストホウシキニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 南谷, 崇, 東京工業大学
Author Heading: 著者：南谷, 崇, 1946- ナンヤ, タカシ, 1946- ( 00104789 )Authorities
Publication Date: 1988-1989
Publication Date (W3CDTF): 1988
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目一般研究(C)
Subject Heading: セルフチエツキングセルフチエツキング
VLSIテスト VLSIテスト
論理回路ロンリカイロ
テスト容易化設計テストヨウイカセツケイ
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 63550270
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-S63550270
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007035068
http://id.ndl.go.jp/bib/000007035068
Bibliographic Record Category (NDL): 214