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セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

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セルフチエツキング機能に基づくVLSIテスト方式に関する研究

国立国会図書館請求記号
Y151-S63550270
国立国会図書館書誌ID
000007035068
資料種別
図書
著者
南谷, 崇, 東京工業大学
出版者
-
出版年
1988-1989
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
セルフチエツキング キノウ ニ モトヅク VLSI テスト ホウシキ ニ カンスル ケンキュウ
著者・編者
南谷, 崇, 東京工業大学
著者標目
著者 : 南谷, 崇, 1946- ナンヤ, タカシ, 1946- ( 00104789 )典拠
出版年月日等
1988-1989
出版年(W3CDTF)
1988
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(C)
件名標目
セルフチエツキング セルフチエツキング
VLSIテスト VLSIテスト
論理回路 ロンリカイロ
テスト容易化設計 テストヨウイカセツケイ