Search results 1
Digitalその他
Available onlineOther Libraries in Japan
- Summary, etc....顕微鏡(C-AFM)を用いて、極薄シリコン酸化膜(SiO_2膜)ならびにゲートSiO_2膜の劣化現象を原子ス...
- Subject Heading...リーク電流 ストレス誘起欠陥 極薄シリコン酸化膜 絶縁破壊 走査トンネル分光 走査プローブ顕微鏡 走査型トン...
Reached to the end of result.
RSSRSS