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超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究
超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究
Paper
図書
笹尾, 勤, 九州工業大学
1999-2001
<Y151-H11694168>
National Diet Library
Subject Heading
VLSI テスト生成 故障検査
遅延故障
BDD 論理設計
構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法 : 平成19年度実績報告書
構造テストに高故障検出効率を保証するプロセッサの命令レベル自己テスト法 : 平成19年度実績報告書
Digital
文書・図像類
井上, 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
2008
Available online
Other Libraries in Japan
Subject Heading
テスト生成 テスト容易化設計 プロセッサ
遅延故障
命令レベル自己テスト VLSI
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
Digital
文書・図像類
大竹, 哲史
奈良先端科学技術大学院大学
2008
Available online
Other Libraries in Japan
Subject Heading
VLSIテスト テスト容易化設計 縮退故障
遅延故障
レジスタ転送レベル データパス 不均一ビット幅
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