超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究

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Material Type: 図書
Title: 超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究
Title Transcription: チョウコウセイノウ VLSI ノロンリセッケイトテストホウシキニカンスルケンキュウ
Author/Editor: 笹尾, 勤, 九州工業大学
Author Heading: 著者：笹尾, 勤, 1950- ササオ, ツトム, 1950- ( 00113543 )Authorities
九州工業大学キュウシュウコウギョウダイガク ( 00632907 )Authorities
Publication Date: 1999-2001
Publication Date (W3CDTF): 1999
Extent: 冊
Additional Title: 研究種目基盤研究(B)
Subject Heading: VLSI VLSI
テスト生成テストセイセイ
故障検査コシヨウケンサ
遅延故障チエンコシヨウ
BDD BDD
論理設計ロンリセツケイ
NDLC: Y151
Note (General): 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
Research Project No. of Grants-in-Aid for Scientific Research: 11694168
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Y151-H11694168
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 000007081449
http://id.ndl.go.jp/bib/000007081449
Bibliographic Record Category (NDL): 214