超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究

• 資料種別: 図書
• タイトル: 超高性能VLSIの論理設計とテスト方式に関する研究
• タイトルよみ: チョウコウセイノウ VLSI ノ ロンリ セッケイ ト テスト ホウシキ ニ カンスル ケンキュウ
• 著者・編者: 笹尾, 勤, 九州工業大学
• 著者標目: 著者 ： 笹尾, 勤, 1950- ササオ, ツトム, 1950- ( 00113543 )典拠; 九州工業大学 キュウシュウ コウギョウ ダイガク ( 00632907 )典拠
• 出版年月日等: 1999-2001
• 出版年（W3CDTF）: 1999
• 数量: 冊
• その他のタイトル: 研究種目 基盤研究(B)
• 件名標目: VLSI VLSI; テスト生成 テストセイセイ; 故障検査 コシヨウケンサ; 遅延故障 チエンコシヨウ; BDD BDD; 論理設計 ロンリセツケイ
• NDLC: Y151
• 一般注記: 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
• 科研費課題番号: 11694168
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: Y151-H11694168
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000007081449; http://id.ndl.go.jp/bib/000007081449
• 整理区分コード: 214